反光率检测仪——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司
硅片反射率检测仪
21世纪的人类搭上了科技飞速进步的快车,生活中许多微量元素都经过加工制作成半导体等电子元件。
其中硅片的用途在工业生产中占着不可或缺的地位,通常被应用于如计算机、电信和电视,还有的应用于先进的微波传送、激光转换系统、诊断和设备、防御系统和NASA航天飞机等领域。
景颐光电反射率检测仪是一套全波长380nm-1000nm的光谱分析仪,能快速准确地测量硅片的反射率。
适用于评估硅片的遮盖力,或金属化薄膜,阳极氧化铝或陶瓷的简单遮光分选任务。
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系统结构
该系统由光源、聚光准直镜,积分球、光电探测器件、单片机、液晶显示器、打印机和数据采集系统等部分组成,工作流程图详见图1:
光源为经过标定的A光源,由它发射的光经聚光准直镜变为平行光束照射进入积分球,积分球漫反射是一种方便的光谱采集技术,积分球的作用就是收集由样品表面反射的光经积分均匀后被光电探测器检测,再经滤波放大器放大信号后转变为数字信号后显示结果。
在整个实验系统中积分球的性能至关重要,而积分球的效果主要决定于积分球内壁的漫反射率、积分球的大小、球内附件对漫反射的影响以及积分球内开孔面积等因素。本系统中光线采集和检测采用图2所示的工作方式进行:
S:光源L:聚光准直镜A:光阱R:反射镜W:样品托架SA:被测试镜面
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